相控陣探傷儀

時間:2017-04-25 10:30 作者:東正試驗儀器 點擊:
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相控陣探傷儀詳細參數
相控陣探傷儀
相控陣探傷儀 
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發時間,從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。
相控陣探傷儀
常見的探頭陣列幾何外形如下:
線形陣
1.維線形陣
2.維矩形陣
圓形陣
1.維環形陣
2.維扇形陣
技術優勢編輯
1.實時彩色成像,包括A/B/C/D和S-掃描,便于缺陷判讀,不會誤判或漏判缺陷;
2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態深度聚焦,從而同時具備寬波束和多焦點的特性,因此檢測速度可以更快更準;
3、相控陣具有更高的檢測靈活性,可以實現其它常規檢測技術所不能實現的功能,如對復雜工件檢測;
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷,缺陷檢出率高,檢測范圍廣,定量、定位精度高;
5、掃查裝置簡單,便于操作和維護;使用更便捷,對人體無傷害,對環境無污染;
6、檢測結果受人為因素影響小,數據便于儲存、管理和調用,以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。
7、可以節省許多成本費用,一探頭和各角度楔塊的多用處,可以自動生成圖文缺陷報告,若有內部網路可以直接發送質檢報告到數據中心查閱。
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